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薄膜測厚儀
更新時(shí)間：
2024-06-04
型號：
瀏覽量：
3433
薄膜測厚儀采用光譜干涉原理進(jìn)行測量，具有非接觸、無破壞、快速等特點(diǎn)，可在真空環(huán)境使用；可與大行程工件臺配合，實(shí)現(xiàn)大面積膜厚自動測量。
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